天光15J型测量显微镜

天光15J型测量显微镜

天光15J型测量显微镜

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品牌:天光
生产厂家:天光

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天光15J型测量显微镜

直角坐标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔外圆直径等等,转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板,量规,钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量,用作观察显微镜,以比较法检查工作平面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。鉴定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。

物镜
目镜
显微镜放大倍数
工作距离(距离)
视场直径(毫米)
放大倍数
焦距(距离)
放大倍数
焦距
2.5X/0.8
43.40
 
10X
 
25.00
25X
58.84
5.6
10X/0.25
17.13
100X
7.81
1.4
测量工组台读数装置主要规格
测量范围
X-轴移动测量范围 50毫米 Y-周移动测量范围 13毫米
测微器分度值
0.01毫米
测量台
转动范围 :不限
刻度盘分度范围 :0°C-360°C
刻度盘之分度值 :1°C
刻度盘游标读数示值 :6
测量精度
仪器示值误差 ±(15+L/15)微米
仪器示值误差包括测量误差与仪器系统误差
注:测量地点温度变化(20°±3°)C L – 为被测物体长度(毫米)
仪器尺寸
测量台与物镜之间最大距离 80 毫米
测量台工作直径 120毫米
仪器体积 高325x长262x宽220 毫米
重量 约10.6kg
显微镜的目镜管同棱镜成为一体绕垂轴旋转,显微镜可由调焦手轮进行上下调焦